目前国际上主流的二代测序技术受光学衍射的限制，只能将样品间距控制在500 nm 以上。由于试剂耗材成本与样品密度成平方反比，借助超分辨成像技术提高测序样品密度，有望进一步将个人全基因组测序费用降至百美元以下。

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